Broadcom光电倍增管, 峰值灵敏度波长420nm, CSP封装, NUV-HD SiPM系列
- RS 库存编号:
- 202-8730
- 制造商零件编号:
- AFBR-S4N33C013
- 制造商:
- Broadcom
暂时无法供应
我们不知道此物品是否会再来货,RS 不再对该产品备货。
- RS 库存编号:
- 202-8730
- 制造商零件编号:
- AFBR-S4N33C013
- 制造商:
- Broadcom
产品技术参数
产品技术参数资料
法例与合规
产品详细信息
通过选择一个或多个属性来查找类似产品。
选择全部 | 属性 | 值 |
|---|---|---|
| 品牌 | Broadcom | |
| 检测频谱 | 可见光 | |
| 峰值灵敏度的波长 | 420nm | |
| 元件类型 | 光电倍增器 | |
| 针数目 | 9 | |
| 安装类型 | 贴片 | |
| 尺寸 | 3.14 x 3.14mm | |
| 封装类型 | CSP | |
| 长度 | 3.1mm | |
| 检测到的最大波长 | 900nm | |
| 检测到的最小波长 | 300nm | |
| 宽度 | 3.1mm | |
| 系列 | NUV-HD SiPM | |
| 频谱范围内的灵敏度 | 300 nm → 900 nm | |
| 选择全部 | ||
|---|---|---|
品牌 Broadcom | ||
检测频谱 可见光 | ||
峰值灵敏度的波长 420nm | ||
元件类型 光电倍增器 | ||
针数目 9 | ||
安装类型 贴片 | ||
尺寸 3.14 x 3.14mm | ||
封装类型 CSP | ||
长度 3.1mm | ||
检测到的最大波长 900nm | ||
检测到的最小波长 300nm | ||
宽度 3.1mm | ||
系列 NUV-HD SiPM | ||
频谱范围内的灵敏度 300 nm → 900 nm | ||
- COO (Country of Origin):
- DE
Broadcom® AFBR-S4N33C013 NUV-HD 单硅光电倍增器 (SiPM) 用于检测低电平脉冲光源的应用,如来自有机和无机发光器材料的切伦科夫光或闪光光。SiPM 可产生单光子的超敏感精密测量,并可检测可见光频谱中的近紫外线 (UV) 光波长。光倍增器对光谱的蓝色光区域具有高灵敏度。
单硅倍增器通过 (TSV) 技术使用硅,具有有源 3 x 3 mm2 面积。扩展多个 AFBR-S4N33C013 IC 可产生更大的面积,让您可以创建阵列,而边缘损耗不大。
Broadcom® NUV-HD SiPM 包括如下应用:时间相关的单光子计数、X 射线和伽马射线检测、伽马射线光谱。光倍增器 AFBR-S4N33C013 可在以下领域实施:生命科学 n 流量细胞计、天体物理学、核医学以及安全和安保。
单硅倍增器通过 (TSV) 技术使用硅,具有有源 3 x 3 mm2 面积。扩展多个 AFBR-S4N33C013 IC 可产生更大的面积,让您可以创建阵列,而边缘损耗不大。
Broadcom® NUV-HD SiPM 包括如下应用:时间相关的单光子计数、X 射线和伽马射线检测、伽马射线光谱。光倍增器 AFBR-S4N33C013 可在以下领域实施:生命科学 n 流量细胞计、天体物理学、核医学以及安全和安保。
特点:
420 nm 时高光子检测效率 (PDE) 超过 54%
单光子时间分辨率 (SPTR) 和偶然时间分辨率 (CRT)
TSV 技术(4 侧可扩展),具有高填充因数
尺寸 3.14 x 3.14 mm2
电池节距(SPAD 节距)30 x 30 μm2
高度透明的玻璃保护层
工作温度范围:-40°C 至 +85°C
符合 RoHS 和 REACH 标准
无铅
检测有机(塑料)和无机发光器材料的光,例如:LSO、LYSO、BGO、NaI、CsI、BaF、LaBr。
420 nm 时高光子检测效率 (PDE) 超过 54%
单光子时间分辨率 (SPTR) 和偶然时间分辨率 (CRT)
TSV 技术(4 侧可扩展),具有高填充因数
尺寸 3.14 x 3.14 mm2
电池节距(SPAD 节距)30 x 30 μm2
高度透明的玻璃保护层
工作温度范围:-40°C 至 +85°C
符合 RoHS 和 REACH 标准
无铅
检测有机(塑料)和无机发光器材料的光,例如:LSO、LYSO、BGO、NaI、CsI、BaF、LaBr。
