开发工具和单版机
价格 (不含税价格) | 描述 | 产品详情 |
Broadcom 评估套件, AFBR-1624Z, AFBR-2624Z芯片, AFBR-0548Z
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博通, 评估模块, 光学, 用于NIR 测量 950 → 1700 nm, Qneo芯片
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博通, 评估套件, 红外线 (IR) 传感器, 用于传感器, Pyroelectric Sensor芯片
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博通, 扩展套件, 超声波测距传感器, 用于传感器, Adapter board, ARM Cortex M0+ Board, USB cable芯片
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Broadcom 评估套件, HFBR-1412Z, HFBR-2412Z芯片, HFBR-0410Z
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博通, 扩展套件, 用于传感器, SMD Flame Sensors芯片
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博通, 开发套件, 评估套件, 用于AFBR-S20M2UV, AFBR-S20M2UV芯片
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博通, 扩展套件, 用于传感器, 3 TO Flame Sensors芯片
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博通, 评估模块, 光学, 用于NIR 测量 730 → 1080 nm, Qmini 芯片
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Broadcom 评估套件, AFBR-2418TZ, AFBR-2419TZ, HFBR-1414PTZ芯片, AFBR-0549Z
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博通, 开发套件, 评估套件, 用于AFBR-S20W2NI, AFBR-S20W2NI芯片
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博通, 评估测试板, 评估测试板, 用于评估板, HEDS-9930芯片
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博通, 评估模块, 光学, 用于宽UV 测量 225 → 1000nm, Qmini芯片
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博通, 评估模块, 光学, 用于WideVIS 测量 225 → 1000nm, Qmini芯片
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博通, 扩展套件, 用于传感器, 2 SMD Flame Sensors芯片
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博通, 评估模块, 光学, 用于VIS 测量 370 → 750 nm, Qmini芯片
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Broadcom 评估套件, AFBR-2418TZ, AFBR-2419TZ, HFBR-1414PTZ芯片, AFBR-0550Z
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博通, 开发套件, 评估套件, 用于HEDS-9930ELEVB, HEDS-9930ELEVB芯片
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博通, 评估测试板, 评估测试板, 用于评估板, HEDS-9930芯片
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